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XDL210荧光测厚仪
XDL210荧光测厚仪
产品详情

XDL210荧光测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和第三方检测机构以及电镀行业无损检测铁镀锌、铁镀铬、铜镀锌、铜镀镍、铜镀金等各类金属镀层厚度测试。对RoHS环境有害物质的测试,卤素含量的检测分析,黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。


技术参数

元素分析范围:从硫(S)到铀(U);·一次可同时分析3层以上镀层;镀层厚度分析检出限可达0.01um;

分析厚度一般为0.1um到50um之间(视材料而不同);

多次测量重复性可达0.1um(对于小于1um的*外层镀层);长期工作稳定性为0.lum(对于小于1um的*外层镀层);配置小孔准直器,测试光斑在0.1mm以内;

探测器能量分辨率为145土5eV;

应用于金属电镀层厚度的测量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等;


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